低功耗之门控时钟设计

clock gating和power gating是降低芯片功耗的常用手段，相比power gating设计，clock gating的设计和实现更为简单，多在微架构、RTL coding阶段即可充分考虑，在综合时(compile_ultra -gate_clock)即可自动mapping到clock gating结构上去。本文先讲解clock gating，ICG的基本结构如下图所示：门控时钟电路有效的降低了动态功耗，因为其减少了时钟树的翻转行为、减少了寄存器clock pin的翻转行为、减少了大量MUX逻辑消耗的功耗，一般可以节省20%-60%的功耗，同时也节省了MUX面积。

门控时钟单元分成两种，一种是带锁存器(latch based)的门控时钟单元，一种是不带有锁存器(latch free)的门控时钟单元。latch based的门控时钟单元能避免毛刺，因此更推荐使用。

门控时钟又分为离散的和集成的(ICG)两种：

1. 离散的CG单元1)带latch的CG（默认）set_clock_gating_style -sequential_cell latch

   2)不带latch的CGset_clock_gating_style -sequential_cell none

2. 集成的CG单元（ICG）set_clock_gating_style -negtive_edge_logic "integrated"

通常，在执行命令compile_ultra -gate_clock前需要设置好clock gating的相关配置选项，具体选项如下：

set_clock_gating_style的options解析如下：- -sequential_cell none | latch

1)-sequential_cell latch(默认)指带latch的CG(latch based style), 并可指定使用具体某个latch cell，比如：-sequential_cell latch:lib_cell。

2)-sequential_cell none指不带latch的CG(latch free style)，比如:

与门做CG，时钟使能为1时钟穿透AND，但posedge trigger存在毛刺；

或门做CG，时钟使能为0时钟穿透OR，但negesge trigger存在毛刺；

• -minimum_bitwidth minsize_value

为了节省gating cell的数量，需达到一定寄存器数量的register bank才使用gating cell。

• -setup setup_value 指定建立时间
• -hold hold_value 指定保持时间

• -positive_edge_logic {cell_list | integrated [active_low_enable]

  [invert_gclk]}

  1) {cell_list}用于指定“上升沿”触发使用的CG单元。需要注意的是-sequential_cell指定的是否有latch应该和cell_list的对应电路是否含有latch保持一致，如：

  set_clock_gating_style -sequential_cell latch -positive_edge_logic {latch and}

  set_clock_gating_style -sequential_cell none -positive_edge_logic {or}

  2) {integrated}用于表明使用上升沿触发的ICG单元。

  如下图所示，该ICG单元就是一个pre-conctrolled positive-edge triggered clock gating latch。
  

• -negative_edge_logic {cell_list | integrated [active_low_enable]

  [invert_gclk]}

  1) {cell_list}用于指定"下降沿”触发使用的CG单元。需要注意的是-sequential_cell指定的是否有latch应该和cell_list的对应电路是否含有latch保持一致，如：

  set_clock_gating_style -sequential_cell latch -negtive_edge_logic {latch or}

  set_clock_gating_style -sequential_cell none -negtive_edge_logic {and}

  如下图，-sequential_cell none指定latch-free模式，但是cell_list却指定了latch、and/or, 这种情况下，DC工具仍然会综合出latch-based clock-gating的电路。

  

  2) {integrated}用于表明使用下降沿触发的ICG单元。如下图所示，该ICG单元就是一个pre-conctrolled negative-edge triggered clock gating latch。
  

• -control_point none | before | after对于DFT测试电路，为了满足电路可控，需要引入TE信号来控制latch的使能端。before就是在Latch之前插入或门，将TE信号和时钟使能信号或起来然后连接到Latch的D端。同理，after就是在Latch之后插入或门，将TE信号和Latch的Q端或起来然后连接到IGG的AND门。

• -num_stages num_stages_count工具默认只使用一级门控时钟，而使用多级门控时钟可进一步节省面积、降低功耗。如下图，a信号被三个CG单元共享，那么将a信号做成第一级CG，b、c、d做成第二级CG。这样，增加了一个CG但减少了3个与门，同时节省了组合逻辑和第二级的CG的功耗。

  set_clock_gating_style -num_stages 2

  那么如何编写门控时钟的RTL代码风格呢？

  第一种风格：

综合出来电路有32个MUX2选择器：

我们换一种写法，DC工具就可将load_cond作为Latch的使能，从而一个clock gating cell便取代了32个MUX2，节省了大量面积的同时，还节省了32个寄存器的动态功耗，32MUX2组合逻辑的功耗，也节省了时钟树上buffer的功耗。

那么如何保证ICG中Latch的时序呢？除in2reg、reg2reg、reg2out、in2out类型路径外，我们会经常看到reg2cgate的setu/hold检查，即clock gate上enable信号要比clock信号提前到达一段时间setup和保持一段时间hold。
通常clock gate上的setup较难收敛，如下图1. register CK端作为launch clock发起端，latch的CK端作为capture捕获端，它们之间天然会存在skew k，即clock tree必然不balance。

2. Latch的时序检查只有半个时钟周期；
3. register Q到Latch EN的combo逻辑延迟；

解决办法：- 一般将clock gate 单元放在寄存器附近以减小skew。

• 也可以采用set_clock_gating_check，加大对clock gating时序约束。

对于clock gating cell，synthesis时就会插入，和CTS没太大关系，一般只要确保clock timing check打开的就行。另外，CTS工具会对其做clone、declone操作。- ICG cell Clone: 同一个ICG单元控制的寄存器较多或者分布不均匀时，就会导致ICG时钟连线过长，可通过clone ICG cell进行优化；

• ICG cell De-Clone: 同一个ICG单元控制的寄存器较少，导致ICG cell数量过多，可通过De-clone ICG cell进行优化；

转载：全栈芯片工程师